Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН
Название на англ.: | Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators |
Тип документа: | стандарт |
Статус документа: | действующий |
Число страниц: | 19 |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 25.07.1988 |
Дата введения в действие: | 30.06.1989 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Сертификат соответствия техническим регламентам Таможенного союза
Декларация соответствия техническому регламенту Таможенного союза
Разработка Технических условий
Свидетельство о государственной регистрации
Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.
Светлана
Ксения
Точные сроки, цену и условия можно узнать отправив заявку. Пожалуйста, заполните форму