Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Название на англ.: | Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
Тип документа: | стандарт |
Статус документа: | действующий |
Число страниц: | 29 |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 27.04.2001 |
Дата введения в действие: | 01.07.2002 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Сертификат соответствия техническим регламентам Таможенного союза
Декларация соответствия техническому регламенту Таможенного союза
Разработка Технических условий
Свидетельство о государственной регистрации
Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.
Светлана
Ксения
Точные сроки, цену и условия можно узнать отправив заявку. Пожалуйста, заполните форму