Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299
Название на англ.: | Semiconductor photoemitters. Measuring method for halfintensity angle |
Тип документа: | стандарт |
Статус документа: | действующий |
Число страниц: | 7 |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 25.03.1993 |
Дата введения в действие: | 01.01.1994 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Сертификат соответствия техническим регламентам Таможенного союза
Декларация соответствия техническому регламенту Таможенного союза
Разработка Технических условий
Свидетельство о государственной регистрации
Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.
Светлана
Ксения
Точные сроки, цену и условия можно узнать отправив заявку. Пожалуйста, заполните форму