Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн
Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.