База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

← 1 2 3 4 5 … 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 … 79 80 81 82 83 →

• ГОСТ 18986.11-84.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
  Название (англ): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
  для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
  для туннельных диодов
  
• ГОСТ 18986.12-74.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
  Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
  
• ГОСТ 18986.13-74.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
  Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
  
• ГОСТ 18986.14-85.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
  Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
  Стандарт не распространяется на стабилитроны
  
• ГОСТ 18986.15-75.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
  Название (англ): Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации
  
• ГОСТ 18986.16-72.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
  Название (англ): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
  
• ГОСТ 18986.17-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
  Название (англ): Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
  
• ГОСТ 18986.18-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
  Название (англ): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости
  
• ГОСТ 18986.19-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Варикапы. Метод измерения добротности
  Название (англ): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов
  
• ГОСТ 18986.20-77.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
  Название (англ): Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности
  

← 1 2 3 4 5 … 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 … 79 80 81 82 83 →