База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАПолупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045

31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14

  • ГОСТ 18986.3-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
    Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
    Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
  • ГОСТ 18986.4-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
    Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
  • ГОСТ 18986.5-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
    Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
    Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
  • ГОСТ 18986.6-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
    Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
  • ГОСТ 18986.7-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
    Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
    Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
    Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
  • ГОСТ 18986.8-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
    Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
  • ГОСТ 18986.9-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
    Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
  • ГОСТ 18986.10-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
    Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance
    Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
    метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
    метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн
  • ГОСТ 18986.11-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
    Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
    Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
    для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
    для туннельных диодов
  • ГОСТ 18986.12-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
    Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
    Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14



Популярные услуги

Все документы

Бесплатная консультация

Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.

Светлана

Ксения

Задать вопрос специалисту

Все вопросы

Оставить заявку

Точные сроки, цену и условия можно узнать отправив заявку. Пожалуйста, заполните форму