Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения Semiconductor emitting infra-red diodes. Method for measuring of radiation pulse switching times Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды, в том числе бескорпусные, и устанавливает метод измерения временных параметров импульса излучения: времени нарастания, времени спада, времени задержки при включении, времени задержки при выключении
Транзисторы биполярные. Термины, определения и буквенные обозначения параметров Bipolar transistors. Terms, definitions and parameter symbols Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров биполярных транзисторов. Термины и отечественные буквенные обозначения, установленные стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе. Международные буквенные обозначения обязательны для применения в технической документации на биполярные транзисторы, предназначенные для экспортных поставок
Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия Semiconductor microwave diodes. General specifications Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые сверхвысокочастотные диоды, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта. Стандарт не распространяется на бескорпусные сверхвысокочастотные диоды
Тиристоры. Термины, определения и буквенные обозначения параметров Thyristors. Terms, definitions and letter symbols Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения параметров тиристоров. Термины и буквенные обозначения, русские и (или) международные, установленные стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе
Транзисторы полевые. Общие требования при измерении электрических параметров Field-effect transistors. General requirements for measuring electrical parameters Настоящий стандарт распространяется на полевые транзисторы и устанавливает общие требования к условиям измерений, аппаратуре и показателям точности измерений. Стандарт следует применять совместно с соответствующими стандартами комплекса при разработке измерительной аппаратуры и проведении измерений электрических параметров полевых транзисторов
Транзисторы полевые. Метод измерения модуля полной проводимости прямой передачи Field-effect transistors. Shot-circuit forward transfer admittance measurement technique Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает метод измерения модуля полной проводимости прямой передачи на малом сигнале. (Сигнал считается малым, если при уменьшении его амплитуды в два раза изменение параметра не выходит за пределы погрешности измерения)
Транзисторы полевые. Метод измерения коэффициента шума Field-effect transistors. Noise figure measurement technique Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает метод измерения коэффициента шума
Транзисторы полевые. Метод измерения крутизны характеристики Field-effect transistors. Forward transconductance measurement technique Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает метод измерения крутизны характеристики S на малом сигнале. (Сигнал считается малым, если при уменьшении его амплитуды в два раза изменение параметра не выходит за пределы погрешности измерения)
Транзисторы полевые. Метод измерения активной составляющей выходной проводимости Field-effect transistors. Active output conductance component measurement technique Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает метод измерения активной составляющей выходной проводимости на малом сигнале. (Сигнал считается малым, если при уменьшении его амплитуды в два раза изменение параметра не выходит за пределы погрешности измерения)
Транзисторы полевые. Метод измерения входной, проходной и выходной емкостей Field-effect transistors. Input transfer and output capacitance measurement technique Настоящий стандарт распространяется на маломощные полевые транзисторы и устанавливает методы измерения входной, проходной и выходной емкостей на малом сигнале. (Сигнал считается малым, если при уменьшении его амплитуды в два раза изменение параметра не выходит за пределы погрешности измерения)
Наши сотрудники всегда предоставят Вам бесплатную консультацию и будут рады взять на себя обязанности по оформлению нужного Вам сертификационного документа.